Surface electromagnetic wave microscopy of opaque samples

We review the ways of performing super high resolution optical microscopy of opaque samples using surface electromagnetic waves (SEW) for the cases when the light signal is detected in the near or in the far field. An immersion method of SEW excitation is presented. The method enables one to perform the superhigh resolution SEW-microscopy of conducting and semi conducting opaque sample surfaces.

Редакторы
-
Сборник материалов конференции
Издательство
-
Номер выпуска
-
Язык
Английский
Страницы
449-457
Статус
Опубликовано
Подразделение
-
Ссылка
-
DOI
-
Номер
-
Том
2799
Год
1996
Организации
  • 1 People's Friendship Univ. of Russia, Moscow, Russia, Russian Federation
Ключевые слова
Immersion methods; Surface electromagnetic wave microscopy; Electromagnetic waves; Optical resolving power; Performance; Surfaces; Microscopic examination
Дата создания
19.10.2018
Дата изменения
19.10.2018
Постоянная ссылка
https://repository.rudn.ru/ru/records/article/record/845/