Влияние кристаллографической ориентации на фазовый переход конечной пластины из сплава с эффектом памяти формы TiNi

Проведено моделирование пластины из сплава с памятью формы TiNi при различных кристаллографических ориентациях с помощью свободного пакета для классической молекулярной динамики LAMMPS. Выяснено, что кристаллографическая ориентация пластины оказывает существенное влияние на температуру фазового перехода. Построена зависимость поверхностной энергии от температуры при кристаллографических ориентациях (100), (110), (112), (122). Исследована устойчивость используемой модели, в результате чего подтверждена ее применимость в данных расчетах.

Авторы
Павлов А.И.1 , Карцев А.И. 2, 3 , Коледов В.В.4 , Лега П.В. 2, 4
Номер выпуска
10
Язык
Русский
Страницы
1035-1039
Статус
Опубликовано
Том
68
Год
2023
Организации
  • 1 Московский государственный университет им. Н.Э. Баумана
  • 2 Российский университет дружбы народов
  • 3 Вычислительный центр ДВО РАН
  • 4 Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН
Дата создания
28.12.2023
Дата изменения
28.12.2023
Постоянная ссылка
https://repository.rudn.ru/ru/records/article/record/105556/
Поделиться

Другие записи