Влияние кристаллографической ориентации на фазовый переход конечной пластины из сплава с эффектом памяти формы TiNi

Проведено моделирование пластины из сплава с памятью формы TiNi при различных кристаллографических ориентациях с помощью свободного пакета для классической молекулярной динамики LAMMPS. Выяснено, что кристаллографическая ориентация пластины оказывает существенное влияние на температуру фазового перехода. Построена зависимость поверхностной энергии от температуры при кристаллографических ориентациях (100), (110), (112), (122). Исследована устойчивость используемой модели, в результате чего подтверждена ее применимость в данных расчетах.

Authors
Павлов А.И.1 , Карцев А.И. 2, 3 , Коледов В.В.4 , Лега П.В. 2, 4
Number of issue
10
Language
Russian
Pages
1035-1039
Status
Published
Volume
68
Year
2023
Organizations
  • 1 Московский государственный университет им. Н.Э. Баумана
  • 2 Российский университет дружбы народов
  • 3 Вычислительный центр ДВО РАН
  • 4 Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН
Date of creation
28.12.2023
Date of change
28.12.2023
Short link
https://repository.rudn.ru/en/records/article/record/105556/
Share

Other records