Proceedings of 2017 20th IEEE International Conference on Soft Computing and Measurements, SCM 2017

Тип
Сборник материалов конференции
Издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Коды
ISBN: 9781538618103
Название конференции
20th IEEE International Conference on Soft Computing and Measurements, SCM 2017
Дата начала
24.05.2017
Дата окончания
26.05.2017
Поделиться

Список записей

Отображать:

Страница 1 из 1. Записи с 1 по 1 из 1

Другие источники записей