Моделирование дифракции света на многослойных анизотропных структурах с регуляризацией

Программа предназначена для расчета энергетических коэффициентов отражения и пропускания поляризованного света от многослойных анизотропных оптических структур. Программа может применяться производителями и разработчиками многослойных оптических структур для устройств микрооптики для моделирования и контроля качества. Программа обеспечивает расчет энергетических коэффициентов отражения и пропускания ТЕ (Transverse electric) и ТМ (Transverse magnetic) поляризованного света от многослойной оптической структуры из оптически анизотропного диэлектрика. В алгоритме программы используется метод Тихоновской регуляризации, что делает расчеты устойчивыми практически для любых исходных условий.

Номер заявки
2013618996
Дата заявки
03.10.2013
Номер патента
2014610675
Дата регистрации
15.01.2014
Дата начала срока действия
03.10.2013
Дата окончания срока дейтсвия
-
Страна
Россия
База данных
Рефераты российских изобретений
Тип
Программа для ЭВМ
Язык
Русский
Статус
Действует
Подразделение
Кафедра прикладной информатики и теории вероятностей
IPC
-
Направления исследований
05.13.18 Математическое моделирование, численные методы и комплексы программ
Заявители
-
Патентообладатели
РУДН
Патентные поверенные
-
Организации
  • 1 РУДН
Ключевые слова
-
Дата создания
19.08.2019
Дата изменения
19.08.2019
Постоянная ссылка
https://repository.rudn.ru/ru/records/patent/record/40385/