ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ. ФИЗИКА.
Издательство научно-технической литературы.
Том 33.
1990.
С. 70-73
EVALUATION OF THE PRECISION OF ELECTRON-DENSITY AND ELECTROSTATIC POTENTIAL FROM X-RAY-DIFFRACTION DATA
Авторы
LOBANOV N.N.
,
TSIRELSON V.G. ,
SHCHEDRIN B.M.
Журнал
Издательство
MEZHDUNARODNAYA KNIGA / Издательство: Российская академия наук / Издательство МАИК "Наука/Интерпериодика"
Номер выпуска
3
Язык
Русский
Страницы
589-595
Статус
Опубликовано
Том
35
Год
1990
Дата создания
19.10.2018
Дата изменения
19.10.2018
Поделиться
Другие записи
ЖУРНАЛ НЕОРГАНИЧЕСКОЙ ХИМИИ.
Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российская академия наук".
Том 35.
1990.
С. 1172-1177