EVALUATION OF THE PRECISION OF ELECTRON-DENSITY AND ELECTROSTATIC POTENTIAL FROM X-RAY-DIFFRACTION DATA

Авторы
LOBANOV N.N. , TSIRELSON V.G. , SHCHEDRIN B.M.
Журнал
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ (KRISTALLOGRAFIYA / Crystallography Reports)
Издательство
Наука
Номер выпуска
3
Язык
Русский
Страницы
589-595
Статус
Опубликовано
Том
35
Год
1990
Цитировать
ГОСТ MLA RIS BibTex
Поделиться

Другие записи