ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ. ФИЗИКА.
Издательство научно-технической литературы.
Том 33.
1990.
С. 70-73
EVALUATION OF THE PRECISION OF ELECTRON-DENSITY AND ELECTROSTATIC POTENTIAL FROM X-RAY-DIFFRACTION DATA
Авторы
LOBANOV N.N.
,
TSIRELSON V.G. ,
SHCHEDRIN B.M.
Журнал
Издательство
MEZHDUNARODNAYA KNIGA / Издательство: Российская академия наук / Издательство МАИК "Наука/Интерпериодика"
Номер выпуска
3
Язык
Русский
Страницы
589-595
Статус
Опубликовано
Том
35
Год
1990
Поделиться
Другие записи
ЖУРНАЛ НЕОРГАНИЧЕСКОЙ ХИМИИ.
Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российская академия наук".
Том 35.
1990.
С. 1172-1177