Ellipsometric microscopy under conditions of surface plasmon resonance

This paper discusses the possibility of using ellipsometric microscopy to study a flat conductive surface when surface plasmons are excited on it by probe radiation. © 1998 The Optical Society of America.

Авторы
Редакторы
-
Издательство
Optical Society of America (OSA)
Номер выпуска
11
Язык
Английский
Страницы
952-953
Статус
Опубликовано
Подразделение
-
DOI
-
Номер
-
Том
65
Год
1998
Организации
  • 1 Russ. Univ. Friendship of Nations, Moscow, Russian Federation
Ключевые слова
Ellipsometry; Light interference; Resonance; Surface waves; Ellipsometric microscopy; Surface plasmon resonance; Optical microscopy
Дата создания
19.10.2018
Дата изменения
19.10.2018
Постоянная ссылка
https://repository.rudn.ru/ru/records/article/record/631/