Научная сессия НИЯУ МИФИ-2011. Научно-техническая конференция-семинар по фотонике и информационной оптике. 2011. 68 с.
Приводятся результаты расчетного и экспериментального анализа основных характеристик макета прибора для определения спектра шероховатости поверхности диэлектриков с использованием оптических волноводов. Установлены значения следующих характеристик макета прибора: диапазон измеряемых пространственных частот (периодов), чувствительность, разрешение по спектру. Обсуждаются возможности улучшения этих характеристик и результаты экспериментальных исследований спектров шероховатости поверхностей градиентных оптических волноводов, выполненные на макете прибора.