USE OF THIN-FILM RESONANCE SYSTEMS FOR THE INVESTIGATION OF GAS INTERACTIONS WITH SURFACES OF METALLIC AND SEMICONDUCTING-FILMS

VEDERNIKOV V.I. , GRYAZNOV V.M. , GULYANOVA S.G. , DERYUGIN L.N. , TISHCHENKO A.A. , CHERNYAI A.I.

ЖУРНАЛ ФИЗИЧЕСКОЙ ХИМИИ

MEZHDUNARODNAYA KNIGA / Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российская академия наук"

2

Русский

481-483

Опубликовано

56

1982

19.10.2018

19.10.2018

https://repository.rudn.ru/ru/records/article/record/10770/