Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Описаны проведенные исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Сформулированы концептуальные подходы к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов1

Authors
Максимова О.В. 1 , Мойсеенко С.В. 2
Publisher
Общество с ограниченной ответственностью Издательский дом ИнфоАвтоматизация
Issue number
10
Language
Russian
Pages
52-56
State
Published
Year
2018
Organizations
  • 1 Ульяновский институт гражданской авиации
  • 2 Российский университет дружбы народов
Keywords
тонкопленочный индикатор; яркость; светоотдача; жидкие кристаллы; автоматизация; формализация; измерения; электролюминесценция
Share

Other records