Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Описаны проведенные исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Сформулированы концептуальные подходы к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов1

Authors
Максимова О.В.1 , Мойсеенко С.В. 2
Publisher
Общество с ограниченной ответственностью Издательский дом ИнфоАвтоматизация
Number of issue
10
Language
Russian
Pages
52-56
Status
Published
Year
2018
Organizations
  • 1 Ульяновский институт гражданской авиации
  • 2 Российский университет дружбы народов
Keywords
тонкопленочный индикатор; яркость; светоотдача; жидкие кристаллы; автоматизация; формализация; измерения; электролюминесценция
Share

Other records

Trotsuk Irina
Крестьяноведение. Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Российская академия народного хозяйства и государственной службы при Президенте Российской Федерации". Vol. 3. 2018. P. 168-189