Дифракция на оптически анизотропных решетках с разным знаком двулучепреломления

Выполнен расчет дифракции лучей, проходящих через оптически анизотропную подложку с поверхностным микрорельефом с использованием оригинальной программы Exedeep (Оптически анизотропные решетки с поверхностным микрорельефом, ОАРПМ). Впервые определены параметры дифракции в разных порядках дифракции для прошедших и отраженных ТЕ- и ТМ-волн для материалов как с положительной, так и отрицательной оптической анизотропией. Результаты моделирования будут использованы для создания дифракционных оптических элементов (ДОЭ), работающих в видимом, инфракрасном и терагерцовом диапазоне.