Исследование шероховатости поверхностей диэлектриков с использованием волноводного рассеяния света

Дано более точное описание процесса волноводного рассеяния с излучением, учитывающее интерференционные эффекты. Развита методика измерения спектральной плотности шероховатости оптической поверхности. Создана и прокалибрована установка, позволяющая измерять характеристики шероховатости особо гладких поверхностей.

Publisher
Всероссийский научно-технический информационный центр
Issue number
4
Language
Russian
Pages
92-92
State
Published
Year
2007
Organizations
  • 1 ГОУВПО "Российский университет дружбы народов"
Share

Other records

Рыбаков Ю.П.
Сборник рефератов научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ. Серия 16: 29. Физика. 30. Механика. 41. Астрономия. 89. Космические исследования. 2007. P.. 16-16