HIGH EFFECTIVE TXRF SPECTROMETRY WITH USING WAVEGUIDE-RESONANCE STRUCTURES Article Egorov E.V., Egorov V.K., Kotova A.A., Borisov S.A. Успехи прикладной физики. Vol. 7. 2019. P. 401-430
STUDY OF SILICON CARBIDE EPITAXY ON SILICON SUBSTRATE Article Egorov V.K., Egorov E.V., Kukushkin S.A., Osipov A.V. Вакуумная техника, материалы и технология. Общество с ограниченной ответственностью "Электровакуумные технологии". 2018. P. 83-93
ABOUT PECULIARITIES OF X-RAY NANOPHOTONICS ON THE BASE OF THE PLANAR X-RAY WAVEGUIDE-RESONATORS Article Egorov V.K., Egorov E.V. Успехи прикладной физики. Vol. 5. 2017. P. 534-548