HIGH EFFECTIVE TXRF SPECTROMETRY WITH USING WAVEGUIDE-RESONANCE STRUCTURES ArticleEgorov E.V., Egorov V.K., Kotova A.A., Borisov S.A.Успехи прикладной физики. Vol. 7. 2019. P.. 401-430
STUDY OF SILICON CARBIDE EPITAXY ON SILICON SUBSTRATE ArticleEgorov V.K., Egorov E.V., Kukushkin S.A., Osipov A.V.Вакуумная техника, материалы и технология. 2018. P.. 83-93
ABOUT PECULIARITIES OF X-RAY NANOPHOTONICS ON THE BASE OF THE PLANAR X-RAY WAVEGUIDE-RESONATORS ArticleEgorov V.K., Egorov E.V.Успехи прикладной физики. Vol. 5. 2017. P.. 534-548