Разработана теоретическая и компьютерная модель зависимости разности фазовой задержки от угла преднаклона директора жидкого кристалла в ячейках с неоднородным распределением директора по толщине ячейки и с разными углами на противолежащих подложках ячейки. Описан метод расчета зависимости нормированной разности фазовых задержек в зависимости от закона распределения угла наклона директора по толщине ячейки. Метод применим для различных типов ячеек жидких кристаллов с положительной или отрицательной диэлектрической или оптической анизотропией. Предложен метод измерения угла наклона на одной из подложек гибридной ячейки при известном значении угла преднаклона жидкого кристалла на другой подложке. Разработанная модель может применяться для расчета оптических компенсаторов.