Detecting a Hierarchy of Deep-Level Defects in the Model Semiconductor ZnSiN<sub>2</sub>

Авторы

De Boer T. ¹ , Moewes A. ¹ , Häusler J.² , Rudel S.S.² , Schnick W.² , Strobel P.³ , Boyko T.D. ⁴

Журнал

Номер выпуска

Язык

Английский

Страницы

27959-27965

Статус

Опубликовано

Том

125

Год

2021

Организации

Дата создания

11.07.2024

Дата изменения

11.07.2024

Постоянная ссылка

https://repository.rudn.ru/ru/records/article/record/153470/

Статья

Соколова М.А.

Студенческий вестник. Общество с ограниченной ответственностью "Интернаука". 2021. С. 53-56

Статья

Huyghebaert D., St.-Maurice J.P., McWilliams K., Hussey G., Howarth A.D., Rutledge P., Erion S.

Journal of Geophysical Research: Space Physics. Том 126. 2021. e2021JA029857 с.

Detecting a Hierarchy of Deep-Level Defects in the Model Semiconductor ZnSiN2