Theory-restricted resonant x-ray reflectometry of quantum materials

Shiu S.H., Kohri H., Chang W.C., Ejiri H., Fujiwara M., Fukui S., Hotta T., Kon Y., Nakano T., Noumi H., Oka M., Ryu S.Y., Sugaya Y., Yosoi M., Ahn D.S., Ahn J.K., Chen J.Y., Daté S., Ohashi Y., Fujimura H., Gohn W., Joo K., Ungaro M., Hicks K., Hwang S.H., Imai K., Ishikawa T., Miyabe M., Muramatsu N., Shimizu H., Kato Y., Lee H.S., Maeda Y., Mibe T., Morino Y., Mizutani K., Niiyama M., Nakatsugawa Y., Ohta T., Parker J.D., Rangacharyulu C., Sawada T., Sumihama M., Tsunemi T., Uchida M.

Tang H., Yuan X., Yu P., Wang M., Wu L., Zou Q., Ke Y., Zhao Y., Li X., Hu Q., Gou H., Mao W.L., Yao Y., Wang L., Yang W., Mao H.K.