Экспозиция Нефть Газ.
2011.
С. 43-45
Pb+ implanted SiO2 probed by soft x-ray emission and absorption spectroscopy
Авторы
Zatsepin D.A.1,
4
,
Kurmaev E.Z.1
,
Hunt A.
2
,
Moewes A.
2
,
Gavrilov N.V.
3
,
Zhidkov I.S.4
,
Cholakh S.O.4
Издательство
Elsevier B.V.
Номер выпуска
18
Язык
Английский
Страницы
3381-3384
Статус
Опубликовано
Том
357
Год
2011
Организации
- 1 X-ray Emission Spectroscopy Lab|Institute of Metal Physics|RAS Ural Div.
- 2 Ural Federal University
- 3 Department of Physics and Engineering Physics|University of Saskatchewan
- 4 Institute of Electrophysics|RAS Ural Div.
Дата создания
08.07.2024
Дата изменения
08.07.2024
Поделиться
Другие записи
Acta Crystallographica. Section E: Structure Reports Online.
John Wiley & Sons.
Том 67.
2011.
С. o1128-o1129