Исследование шероховатости поверхностей диэлектриков с использованием волноводного рассеяния света

Дано более точное описание процесса волноводного рассеяния с излучением, учитывающее интерференционные эффекты. Развита методика измерения спектральной плотности шероховатости оптической поверхности. Создана и прокалибрована установка, позволяющая измерять характеристики шероховатости особо гладких поверхностей.

Авторы
Издательство
Всероссийский научно-технический информационный центр
Номер выпуска
4
Язык
Русский
Страницы
92-92
Статус
Опубликовано
Год
2007
Организации
  • 1 ГОУВПО "Российский университет дружбы народов"
Цитировать
Поделиться

Другие записи

Вострикова Е.А.
Сборник рефератов научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ. Серия 16: 29. Физика. 30. Механика. 41. Астрономия. 89. Космические исследования. Всероссийский научно-технический информационный центр. 2007. С. 72-72
Рыбаков Ю.П.
Сборник рефератов научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ. Серия 16: 29. Физика. 30. Механика. 41. Астрономия. 89. Космические исследования. Всероссийский научно-технический информационный центр. 2007. С. 16-16