Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering.
SPIE.
2002.
С. 312-319
Using of the waveguide light scattering for precision measurements of the statistic parameters of irregularities of integrated optical waveguide's materials
Авторы
Yegorov A.A.
1,
2,
3
Сборник материалов конференции
Издательство
SPIE
Язык
Английский
Страницы
299-309
Статус
Опубликовано
Год
2003
Организации
- 1 Inventor's Council|Peoples' Friendship Univ. of Russia
- 2 Lab. of the Optics of the Surface|General Physics Institute|Russian Academy of Sciences
- 3 Apt. 76
Дата создания
08.07.2024
Дата изменения
08.07.2024
Поделиться
Другие записи
Ferroelectrics.
Gordon and Breach Science Publishers.
2004.
С. 149-152