Analysis of octadecyltrichlorosilane treatment of organic thin-film transistors using soft x-ray fluorescence spectroscopy

Авторы
Kang S.J.1 , Yi Y.1 , Kim C.Y.1 , Whang C.N.1 , Callcott T.A.2 , Krochak K. 3 , Moewes A. 3 , Chang G.S. 3
Журнал
Applied Physics Letters
Издательство
American Institute of Physics
Номер выпуска
23
Язык
Английский
Страницы
1-3
Статус
Опубликовано
Том
86
Год
2005
Организации
  • 1 Institute of Physics and Applied Physics|Yonsei University
  • 2 Department of Physics and Astronomy|University of Tennessee
  • 3 Department of Physics and Engineering Physics|University of Saskatchewan
Дата создания
08.07.2024
Дата изменения
08.07.2024
Постоянная ссылка
https://repository.rudn.ru/ru/records/article/record/115602/
Поделиться

Другие записи