Характеризация тонких оптических золь-гель пленок методом сканирующей микроскопии

Авторы
Ахмеджанов И.М. 1 , Баранов Д.В. 1 , Золотов Е.М. 1 , Трофимов Н.С. 1 , Чехлова Т.К. 1
Сборник материалов конференции
L Всероссийская конференция по проблемам динамики, физики частиц, физики плазмы и оптоэлектроники: сборник тезисов докладов. Москва, РУДН, 13-16 мая 2014 г. Скачать
Издательство
РУДН
Язык
Русский
Страницы
265-266
Статус
Опубликовано
Год
2014
Организации
  • 1 Росcийский университет дружбы народов
Цитировать
ГОСТ MLA RIS BibTex
Поделиться

Другие записи

НОВЫЕ СХЕМЫ МОДУЛЯТОРОВ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДИФРАКЦИОННОГО ТИПА

Статья
Басистый Е.В., Комоцкий В.А., Соколов Ю.М.
L Всероссийская конференция по проблемам динамики, физики частиц, физики плазмы и оптоэлектроники: сборник тезисов докладов. Москва, РУДН, 13-16 мая 2014 г.. РУДН. 2014. С. 270-272

ВЛИЯНИЕ ДЕФОРМАЦИИ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ НА DC ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛА LICU2O2+?

Статья
Дау Х.Ш., Тищенко Э.А., Буш А.А., Каменцев К.Е.
L Всероссийская конференция по проблемам динамики, физики частиц, физики плазмы и оптоэлектроники: сборник тезисов докладов. Москва, РУДН, 13-16 мая 2014 г.. РУДН. 2014. С. 261-264