Моделирование дифракции света на многослойных анизотропных структурах с регуляризацией

Программа предназначена для расчета энергетических коэффициентов отражения и пропускания поляризованного света от многослойных анизотропных оптических структур. Программа может применяться производителями и разработчиками многослойных оптических структур для устройств микрооптики для моделирования и контроля качества. Программа обеспечивает расчет энергетических коэффициентов отражения и пропускания ТЕ (Transverse electric) и ТМ (Transverse magnetic) поляризованного света от многослойной оптической структуры из оптически анизотропного диэлектрика. В алгоритме программы используется метод Тихоновской регуляризации, что делает расчеты устойчивыми практически для любых исходных условий.