Изобретение относится к инфракрасной спектроскопии поверхностей металлов и полупроводников. Спектрометр содержит перестраиваемый по частоте источник p-поляризованного монохроматического излучения, элемент преобразования излучения источника в поверхностные плазмоны (ПП), твердотельный проводящий образец с плоскогранной поверхностью, фотодетектор, устройство обработки информации и непрозрачный экран, установленный перпендикулярно треку ПП, причем край экрана, обращенный к плоской поверхности образца, размещен на расстоянии от 5? до 20? (где ? - длина волны излучения в окружающей образец среде) от этой поверхности. Фотодетектор размещен в поле ПП на подвижной платформе, перемещаемой параллельно поверхности вдоль трека ПП, и подключен к устройству обработки информации. Изобретение направлено на упрощение конструкции и сокращение времени измерений. 2 ил.