СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПРОВОДЯЩИХ ОБРАЗЦОВ

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники. Сущность изобретения заключается в том, что при использовании излучения с ненулевыми р- и s-составляющими поля для возбуждения ПЭВ происходит изменение интенсивности составляющих поля: у р-составляющей она уменьшается, а у s-составляющей остается неизменной, что приводит к более выраженному резонансному характеру зависимости угла поворота плоскости поляризации от эффективности возбуждения ПЭВ ?. Это позволяет более точно определять угол падения излучения, соответствующий ?=100% и, таким образом, существенно повысить точность определения параметров образца. 2 с.п. ф-лы, 2 ил.