ШИРОКОПОЛОСНЫЙ СПЕКТРОМЕТР ПОВЕРХНОСТНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ВОЛН

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев. В спектрометре, содержащем источник света, объектив, прозрачную металлическую пленку, нанесенную на гипотенузную грань треугольной призмы, используемой в качестве подложки, линзу, ось которой перпендикулярна другой боковой грани призмы, и спектрограф, дополнительно введены призма, выполненная из прозрачного для света видимого и ИК диапазонов спектра материала и размещенная на пути светового пучка между объективом и металлической пленкой так, что одна из ее боковых граней параллельна внешней поверхности пленки, на шероховатостях которой свет возбуждает ПЭВ, и удалена от нее на расстояние, равное глубине проникновения поля ПЭВ ИК диапазона в окружающую среду, причем свет падает на эту грань под углом меньше критического, а также дополнительная линза, оптическая ось которой перпендикулярна другой боковой грани дополнительной призмы, и спектрограф ИК диапазона, входное отверстие которого расположено в задней фокальной плоскости дополнительной линзы. Техническим результатом изобретения является увеличение частотного диапазона функционирования. 2 ил.