Для задач лазерной физики и оптоэлектроники исследованы свойства пространственных спектров наблюдаемых при дифракции лазерных пучков на прямоугольных периодических отражающих дифракционных структурах с глубиной, порядка нескольких длин волн и ступенчатых фазовый структурах (СФС). Исследованы особенности поведения зависимостей интенсивностей в дифракционных порядках от угла падения лазерного пучка на дифракционную структуру, выявлены линейные участки на этих осциллирующих кривых. Выявлены новые закономерности изменения интегральных мощностей в максимумах дифракционной картины при смещении образца СФС относительно центра перетяжки пучка. На основании результатов проведенных физических исследований взаимодействия лазерного пучка с глубокой отражающей дифракционной решеткой и СФС предложены устройства для измерения малых угловых и линейных перемещений. Получено хорошее соответствие зависимостей, полученных расчетным путем с результатами соответствующих экспериментальных измерений. При расч