Разработка программного обеспечения для анализа результатов исследования трёхслойной тонкопленочной структуры

Рассмотрено несколько алгоритмов расчёта параметров волноведущей плёнки оптического волновода, использование которых позволяет уменьшить время на обработку экспериментальных данных. Были написаны программы для операционных систем Windows и Android, протестированные на образцах волноводов с волноведущим слоем из золь-гель пленок диоксида циркония и диоксида титана. Разработан интерфейс, позволяющий обрабатывать большое количество точек, с примерной скоростью обработки - 50 значений в минуту.

Software development for analysis of the results of the study of a three-layer thin-film structure

In this article were considered several algorithms for calculating the parameters of the waveguide film of an optical waveguide, the use of which reduces the time for processing experimental data. Programs were written for the Windows and Android operating systems, tested on waveguide samples with a waveguide layer of sol-gel films ofzirconium dioxide and titanium dioxide. An interface has been developed that allows you to process a large number of points, with an approximate processing speed of 50 values per minute.