Авторы
Чжэн X. (Zheng X.) , Чжан С. (Zhang S.) , Хуан В. (Huang W.) , Халид М.Б. (Khalid M.B.) , Исхак Т. (Ishaq T.) , Крайем Х. (Kraiem H.) ,
Ребух Н.Я. (Rebouh N.Y.) 1 , Кучер Д.Е. (Kucher D.E.)
Издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.