Авторы
Чжан Дж (Zhang J) , Цзоу Б (Zou B) , Юань Ю (Yuan Y) , Хан А (Khan A) , Джунаид М.Б (Junaid M.B) , Аббас К (Abbas Q) , Зулькарнайн Р (Zulqarnain R) ,
Ребух Н.Я (Rebouh N.Y) 1 ,
Кучер О.Д (Kucher O.D) 1 , Альзахрани Х (Alzahrani H)
Издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.