АВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЦЕССОВ ИЗМЕРЕНИЯ СВЕТОТЕХНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ИНДИКАТОРНЫХ УСТРОЙСТВ

В настоящее время уже невозможно представить электронное устройство без эргономичного средства отображения информации. Для разработки современных и перспективных средств отображения информации необходимо постоянно исследовать новые материалы и конструкции индикаторов, а также их параметры. Изучение таких структур является комплексной задачей и требует значительного труда исследователей и разработчиков. Поэтому развитие автоматизированных способов измерения параметров дисплеев является актуальной задачей, так как позволяет ускорить процесс поиска новых материалов и конструкций с оптимальными параметрами. Сотрудниками Ульяновского государственного технического университета совместно с учеными Российского университета дружбы народов были проведены исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Результатом совместной работы стали идеи формирования концептуальных подходов к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов.

MEASUREMENT PROCESS OF AUTOMATION OF NANOSTRUCTURED INDICATORS LIGHTNING CHARACTERISTICS

It is now impossible to imagine an electronic device without the ergonomic display. For the development of modern and advanced display products need to constantly explore new materials and construction of indicators, as well as their parameters. The study of such structures is a complex task and requires significant research and development work. Therefore, the development of automated methods for measuring the parameters of the displays is an important task as it allows to accelerate the search for new materials and structures with the optimal settings. Employees of Ulyanovsk State Technical University together with scientists from the Russian Peoples' Friendship University were investigated methods of measuring devices basic parameters of liquid crystal structures and thin-film electroluminescent emitters. The joint work began forming ideas of conceptual approaches to the development of automated systems for measuring parameters of nanostructured lighting indicator elements.