Научная сессия НИЯУ МИФИ-2011. Научно-техническая конференция-семинар по фотонике и информационной оптике.
Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ".
2011.
68 p.
Приводятся результаты расчетного и экспериментального анализа основных характеристик макета прибора для определения спектра шероховатости поверхности диэлектриков с использованием оптических волноводов. Установлены значения следующих характеристик макета прибора: диапазон измеряемых пространственных частот (периодов), чувствительность, разрешение по спектру. Обсуждаются возможности улучшения этих характеристик и результаты экспериментальных исследований спектров шероховатости поверхностей градиентных оптических волноводов, выполненные на макете прибора.