Compton scattering of elemental silicon at high pressure

Hunt A., Moewes A., Ching W.-Y., Chiang Y.-M.

Mibe T., Nakano T., Ahn D.S., Ejiri H., Fujiwara M., Hotta T., Kino K., Kohri H., Matsumura T., Matsuoka N., Morita M., Muramatsu N., Shagin P.M., Zegers R.G.T., Sugaya Y., Sumihama M., Chang W.C., Oshuev D.S., Wang C.W., Wang S.C., Ahn J.K., Akimune H., Yonehara K., Asano Y., Daté S., Kumagai N., Ohashi Y., Ohkuma H., Toyokawa H., Yorita T., Fujimura H., Kim Z.Y., Titov A.I., Hicks K., Imai K., Ishikawa T., Miwa K., Miyabe M., Niiyama M., Sasaki T., Yosoi M., Iwata T., Kawai H., Ooba T., Shiino Y., Makino S., Matsuda T., Toi Y., Miyachi Y., Nomachi M., Sakaguchi A., Rangacharyulu C., Shimizu H., Wakai A., Yoshimura M.