Влияние состояния рабочей поверхности гальванического датчика импульсного рентгеновского излучения на его быстродействие

Предложена новая конструкция гальванического датчика импульсного рентгеновского излучения, представляющая собой плоский электрический конденсатор с окном в одной металлической обкладке и твердым диэлектриком из монокристаллического сапфира толщиной 200-300 μm внутри. Установлено влияние шероховатости поверхности диэлектрика (сапфира) в области окна на гальваническое линейное детектирование рентгеновского излучения. Испытания показали, что при сверхгладкой полировке рабочей поверхности пластины из сапфира в области окна до шероховатости Rq≤ 0.2 nm можно обеспечить возможность гальванического линейного детектирования рентгеновского излучения с энергией в диапазоне 0.1-1 keV и плотностью мощности 1-2 MW· cm-2 со временем срабатывания датчика около 8 ns. Датчики такого типа могут найти применение в исследованиях процессов инерциального термоядерного синтеза.

A new design of a galvanic sensor of pulsed X-ray radiation is proposed, which is a flat electric capacitor with a window in one metal lining and a solid dielectric made of the single crystal sapphire with a thickness of 200-300 µm inside. The influence of the surface roughness of the sapphire in the window area on the galvanic linear sensor of X-ray radiation has been established. Tests have shown that with ultra-smooth polishing of the sapphire plate working surface in the window area to a roughness of Rq≤ 0.2 nm, it is possible to provide the galvanic linear detection of X-rays with an energy in the range of 0.1-1 keV and a power density of 1-2 MW•cm-2 with a sensor response time of about 8 ns. Sensors of this type can be used in studies of inertial nuclear fusion processes

Authors
Барыков И.А. 1, 2 , Буташин А.В.3 , Зайцев В.И. 2 , Муслимов А.Э.3 , Тараканов И.А.4 , Исмаилов А.М.5 , Федоров В.А. 3 , Каневский В.М.3
Publisher
MEZHDUNARODNAYA KNIGA / Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Number of issue
9
Language
Russian
Pages
21-25
Status
Published
Volume
49
Year
2023
Organizations
  • 1 Российский университет дружбы народов
  • 2 Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований
  • 3 Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН
  • 4 Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН
  • 5 Дагестанский государственный университет
Keywords
x-ray radiation; Galvanic sensor; sapphire; dielectric; flat capacitor; рентгеновское излучение; гальванический датчик; сапфир; диэлектрик; плоский конденсатор
Share

Other records