МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕХНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ И ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ЭЛЕКТРОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫХ СТРУКТУР

Представлена фундаментальная научная проблема экспериментального и теоретического исследования характеристик материалов для перспективных плоскопанельных средств отображения информации, а также разработаны новые методов исследования перспективных материалов.

Авторы
Максимова О.В. 1 , Мойсеенко С.В. 2
Журнал
Современные проблемы проектирования, производства и эксплуатации радиотехнических систем
Издательство
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет"
Номер выпуска
11
Язык
Русский
Страницы
264-266
Статус
Опубликовано
Год
2018
Организации
  • 1 Ульяновский институт гражданской авиации имени Главного маршала авиации Б.П. Бугаева
  • 2 Российский университет дружбы народов
Ключевые слова
тонкопленочный индикатор; светоотдача; жидкие кристаллы; автоматизация; формализация; измерения; электролюминесценция
Цитировать
ГОСТ MLA RIS BibTex
Поделиться

Другие записи