Using of the waveguide light scattering for precision measurements of the statistic parameters of irregularities of integrated optical waveguide's materials

Авторы
Yegorov A.A. 1, 2, 3
Сборник материалов конференции
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Издательство
SPIE
Язык
Английский
Страницы
299-309
Статус
Опубликовано
Год
2003
Организации
  • 1 Inventor's Council|Peoples' Friendship Univ. of Russia
  • 2 Lab. of the Optics of the Surface|General Physics Institute|Russian Academy of Sciences
  • 3 Apt. 76
Цитировать
ГОСТ MLA RIS BibTex
Поделиться

Другие записи