В статье рассмотрен алгоритм для быстрого анализа данных измерений параметров тонкой пленки в волноводном режиме. Рассмотрены методы дихотомии для решения дисперсионных уравнений. Тестирование алгоритма проводилось на примере простой задачи расчета трехслойной волноводной структуры. Оптические параметры волновода, показатель преломления и толщину определяли с использованием экспериментально полученных скоростей замедления в волноводном режиме.
In this article the creation of the algorithm for the rapid analysis of the measured data of a thin film in the waveguide mode is considered. To solve the dispersion equations a methods of dichotomy was used. Testing of the algorithm was carried out on the example of a simple task of calculating a three-layer waveguide structure. The optical parameters of the waveguide, refractive index and thickness were determined using the experimentally obtained deceleration rates in the waveguide mode.